東京工科大学　工学部　応用化学科　ブログ

無機、有機材料や金属材料における結晶構造の情報を得るためには、試料を微細な粉末にして粉末X線回折測定を行います。

　また、近年では薄膜材料や表面コーティング膜がもつ機能性が注目され、表面からナノメートル（ナノメートル：1メートルの10億分の１）程度の厚さの試料表面層における結晶構造の情報が重要になっています。

　導入された装置では、平行性の高いX線を試料に照射して測定を行えるので、このような先端材料の精密な特性付けが可能になります。

　X線といえば、レントゲン写真を思い浮かべる人もいるでしょう。

　そうです。レントゲン写真を撮ることで、身体の内部を“破壊することなく”観察することが出来ます。

　X線回折も同じです。物質や材料を破壊せずに内部を、しかも原子の配列を観察することができるのです。原子の配列（結晶構造）が分かり、先人によって蓄積されている膨大なデータと比較すれば、その物質の物性を予測することが可能になります。また、別の実験でその物質の物性・特性が分かれば、構造と物性の関係を詳細に調べることで新規の物質・材料を設計・開発するための知見が得られます。

　応用化学科には、今回導入された測定装置以外にも、先進材料を精密に解析できる装置が数多く設置されています。応用化学科で学ぶ講義や実験を通じ、卒業時にはこれらの装置を駆使して最先端の研究を行う力が学生諸君に備わってくることでしょう。その成長ぶりが、今から楽しみです。